接續(xù)金具接觸電阻的現(xiàn)狀研究和分析
吳少雷1，馮玉1，陳銳2，王偉2
（1 國(guó)網(wǎng)安徽省電力有限公司電力科學(xué)研究院，安徽 合肥 230601；2 合肥工業(yè)大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院，安徽 合肥 230009）
摘 要：接續(xù)金具在正常工作時(shí)，通常要求電接觸處的接觸電阻小而穩(wěn)定。從導(dǎo)電斑點(diǎn)、接觸電阻模型、表面膜、熱效應(yīng)和測(cè)量方法等方面總結(jié)了接觸電阻的研究現(xiàn)狀，并提出配網(wǎng)接續(xù)工作中減小接續(xù)金具與導(dǎo)線之間接觸電阻的有效措施。指出在設(shè)計(jì)和安裝電力金具時(shí)，有必要形成相關(guān)的性能測(cè)試和安裝工藝規(guī)范。
關(guān)鍵詞：接續(xù)金具；接觸電阻；影響因素；材料
中圖分類號(hào)：TM934.14 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1007-3175(2018)10-0001-04
Current Situation Research and Analysis of Contact Resistance of Contact Fittings
WU Shao-lei1, FENG Yu1, CHEN Rui2, WANG Wei2
（1 State Grid Anhui Electric Power Co., Ltd, Electric Power Research Institute, Hefei 230601, China;
2 School of Mechanical Engineering, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China）
Abstract: When the contact fittings are in normal operation, the contact resistances must maintain reliable and favorable electrical contact effects.The research status of contact resistance was summarized from the aspects of conductive spots, contact resistance model, surface film, heat effect andmeasuring methods etc. This paper proposed the effective measures to reduce the contact resistance between the contact fitting and the conductor in the work of distribution network connection. It is pointed out that when to design and install the electric power fittings, it is necessary to form the relevant performance test and installation technology specification.
Key words: contact fitting; contact resistance; influencing factor; material
參考文獻(xiàn)
[1] 程禮椿. 論接觸電阻模型與應(yīng)用問題[J]. 高壓電器，1993，29(2)：34-40.
[2] NAKAMURA M.Constriction resistance of conducting spots by the boundary element method[J]. IEEE Transactions on Components Hybrids & Manufacturing Technology，1993，16(3)：339-343.
[3] 堵永國(guó)，張為軍，胡君遂. 電接觸與電接觸材料( 二)[J]. 電工材料，2005(3)：42-46.
[4] GREENWOOD J A.Constriction resistance and the real area of contact[J]. Britsh Journal of Applied Physics，2002，17(12)：1621-1632.
[5] 胡兆穩(wěn)，劉焜，王偉，等. 粗糙表面接觸模型的研究現(xiàn)狀和展望[J]. 低溫與超導(dǎo)，2011，39(12)：71-74.
[6] 申正寧. 大電流連接器的熱分析與熱設(shè)計(jì)[D]. 北京：北京郵電大學(xué)，2015.
[7] 周蠡，魯鐵成，張博，等. 基于三維分形接觸電阻模型的粗糙表面多物理場(chǎng)耦合分析[J]. 電工技術(shù)學(xué)報(bào)，2015，30(14)：226-232.
[8] 瞿航，陳寧. 球面與粗糙平面電接觸模型的理論分析及實(shí)驗(yàn)研究[J]. 浙江電力，2016，35(12)：36-42.
[9] BROUE A, FOURCADE T, DHENNIN J, et al. Validation of bending tests by nanoindentation for micro-contact analysis of MEMS switches[J].Journal of Micromechanics & Microengineering，2010，20(8)：085025.
[10] 張強(qiáng)，蔡旭龍，王建宏. 觸點(diǎn)制造過程表面膜電阻對(duì)接觸電阻的影響[J]. 機(jī)電元件，2014，34(2)：43-47.
[11] CHEN Z K, SAWA K.The investigation of surface characteristics and contact resistance of dc relay contacts[J].IEEE Transactions on Components Hybrids & Manufacturing Technology，1993，16(2)：211-219.
[12] TAMAI T.Effect of humidity on growth of oxide film on surface of copper contacts[J].IEICE Transactions on Electronics，2007，90(7)：1391-1397.
[13] MALUCCI R D.Dynamic model of stationary contacts based on random variations of surface features[J]. IEEE Transactions on Components Hybrids & Manufacturing Technology，1992，15(3)：339-347.
[14] 王召斌，翟國(guó)富，黃曉毅. 電磁繼電器貯存期接觸電阻增長(zhǎng)的動(dòng)力學(xué)模型[J]. 電工技術(shù)學(xué)報(bào)，2012，27(5)：205-211.
[15] 臧春艷，何俊佳，李勁，等. 密封繼電器接觸電阻與表面膜研究[J]. 中國(guó)電機(jī)工程學(xué)報(bào)，2008，28(31)：125-130.
[16] ZHANG J G, GAO J C, FENG C.The selective deposition of particles on electric contact and their effects on contact failure[C]//Proceedings of the Fifty-First IEEE Holm Conference on Electrical Contacts，2005：127-134.
[17] 劉宏達(dá). 塵土中幾種典型成分對(duì)電接觸可靠性的影響[D]. 北京：北京郵電大學(xué)，2011.
[18] 馬愛莉. 軟質(zhì)顆粒特性對(duì)電觸點(diǎn)可靠性影響的研究[D]. 北京：北京郵電大學(xué)，2010.
[19] 高錦春，章繼高. 顆粒靜電對(duì)電接觸故障的影響研究[C]//第十四屆全國(guó)電磁兼容學(xué)術(shù)會(huì)議論文集，2004：205-210.
[20] BROUE A, DHENNIN J, COURTADE F, et al. Thermal and topological characterization of Au, Ru and Au/Ru based MEMS contacts using nanoindenter[C]//IEEE International Conference on MICRO Electro Mechanical Systems，2010，33(9)：544-547.
[21] BERMAN D, WALKER M, KRIM J.Contact voltageinduced softening transition of gold-ongold contacts at cryogenic temperatures[C]// American Physical Society March Meeting，2011.
[22] 榮命哲. 電器觸點(diǎn)靜態(tài)電接觸熱過程的數(shù)值分析[J]. 電工技術(shù)學(xué)報(bào)，1994(3)：34-38.
[23] 譚志龍，陳松，管偉明，等.Agni10觸頭材料閉合接觸階段的熱- 電- 力耦合分析及實(shí)驗(yàn)研究[J]. 稀有金屬材料與工程，2012，41(2)：276-280.
[24] 劉幗巾，李文華，蔣棟. 電器觸點(diǎn)接觸電阻測(cè)量裝置的研究[J]. 電測(cè)與儀表，2001，38(2)：15-16.
[25] 李奎，李志剛. 接觸電阻新型測(cè)量方法的研究[J].電氣開關(guān)，1997(6)：26-28.
