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期刊號： CN32-1800/TM| ISSN1007-3175

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一起220 kV GIS局部放電試驗異常狀況原因分析

來源：電工電氣發(fā)布時間：2022-09-26 15:26 瀏覽次數(shù)：443

一起220 kV GIS局部放電試驗異常狀況原因分析

李洪坤，黃承喜，賴慶春
(中國南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司超高壓輸電公司柳州局，廣西 柳州 545000)
 
    摘 要：絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備 (GIS) 在出廠前需要進行例如雷電沖擊、局部放電等出廠試驗，以有效檢查設(shè)備在制造、裝配等環(huán)節(jié)中是否存在問題。對一起 220 kV GIS 在進行局部放電試驗(出廠試驗) 時出現(xiàn)局部放電超標(biāo)的狀況進行分析，通過采用定向排除法，確定出設(shè)備故障范圍，并對故障結(jié)構(gòu)進行解體分析，X 光探傷結(jié)果發(fā)現(xiàn)絕緣底座中有微小氣泡，說明裝配車間存在技術(shù)控制或清潔度不夠問題，同時絕緣底座經(jīng)過多次的雷電沖擊后，由于累積效應(yīng)，導(dǎo)致設(shè)備在局部放電試驗中指標(biāo)超標(biāo)。經(jīng)對故障原因分析，提出相應(yīng)的整改防范措施，提高了裝配車間技術(shù)管控水平。
    關(guān)鍵詞： 絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備(GIS) ；雷電沖擊；局部放電；X 光探傷
    中圖分類號：TM595     文獻標(biāo)識碼：B     文章編號：1007-3175(2022)09-0034-04
 
Cause Analysis for an Abnormal Condition in Partial
Discharge Test of 220 kV GIS
 
LI Hong-kun, HUANG Cheng-xi, LAI Qing-chun
（China Southern Power Grid EHV Transmission Company Liuzhou Branch, Liuzhou 545000, China）
 
    Abstract: The gas insulated switchgear(GIS) has to conduct many tests, such as the lightning impulse test, and the partial discharge test,before leaving the factory. These tests could help examine problems in different processes, for example, manufacturing or the assembly process.This paper analyzed an over standard partial discharge status during the 220 kV GIS conducting the partial discharge test. In addition, it used the directional elimination method to determine the scope of equipment faults and disassembled and analyzed the failure structure. The results of X-ray flaw detection showed that small air bubbles existed in the insulating base. This phenomenon indicated problems in the assembly department,such as weaknesses in the technical control or the insufficient cleaning condition. Because of the cumulative effect, the indexes exceed the standard in the partial discharge test after multiple lightning impulses. After cause analysis, this study provides related measures to help improve the technical control level of the assembly workshop.
    Key words: gas insulated switchgear(GIS); lightning impulse; partial discharge; X-ray flaw detection
 
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