基于Matlab仿真的閃變儀自校驗及誤差校正研究 

高燕1，吳陽2 
1 東南大學(xué) 電氣工程學(xué)院，江蘇 南京 210096； 2 沭陽縣供電公司，江蘇 沭陽 223600 
 

摘 要：為提高閃變儀的測量精度，在介紹IEC閃變儀的測量原理及短時閃變嚴(yán)重度計算方法的基礎(chǔ)上，論述了閃變儀的數(shù)字化實現(xiàn)模型及PID自校驗控制算法的實現(xiàn)，并采用統(tǒng)計排序法計算短時閃變嚴(yán)重度。針對不同波動頻率下短時閃變嚴(yán)重度的測量誤差引入多項式擬合校正，Matlab仿真結(jié)果表明，引入多項式擬合校正方法明顯提高了閃變儀的檢測精度。
關(guān)鍵詞：閃變；短時閃變嚴(yán)重度；自校驗；誤差校正
中圖分類號：TM933 文獻標(biāo)識碼：A 文章編號：1007-3175(2013)02-0035-05

Research on Self Checking and Error Correction of Flicker Meter Based on Matlab Simulation 

GAO Yan1, WU Yang2 
1 School of Electric Engineering, Southeast University, Nanjing 210096, China;
2 Shuyang Power Supply Corporation, Shuyang 223600, China 
 

Abstract:In order to improve the measurement precision of the flicker meter, on the basis of the IEC flicker meter measurement principle and the calculation methods of the short-term flicker severity, this paper discussed the model of digital flicker meter and the PID self-checking control algorithm, at the same time, the short-term flicker severity was calculated with statistic sequence. In allusion to the measurement error of the short-term flicker severity in different fluctuation frequency, polynomial fitting correction method was introduced and verified by the Matlab simulation experiment.
Key words: flicker; short-term flicker severity; self checking; error correction

參考文獻
[1] 肖湘寧，韓民曉，徐永海.電能質(zhì)量分析與控制[M].北京：中國電力出版社，2010.
[2] IEC61000-4-15：2003 Flickermeter-Functional and Design Specifications[S].
[3] 王維慶，王海云，陳宇中.基于Matlab短時閃變嚴(yán)重度計算方法研究[J].新疆大學(xué)學(xué)報：自然科學(xué)版，2007，24(3)：282-285.
[4] 趙剛，施圍，林海雪.閃變值計算方法的研究[J].電網(wǎng)技術(shù)，2001，25(11)：15-18.
[5] 高彥靜.電壓波動的檢測方法和閃變計算研究[D].天津：天津大學(xué)，2010.
[6] 馬玉龍，劉連光，張建華，等.IEC閃變測量原理的數(shù)字化實現(xiàn)方法[J].中國電機工程學(xué)報，2001，21(11)：93-96.
[7] 吳煒，陳勁操.基于Matlab的數(shù)字式IEC閃變儀分析研究[J].電測與儀表，2009，46(4)： 50-52.
[8] 趙海翔，陳默子，戴慧珠.閃變值離散化計算的誤差分析及其應(yīng)用[J].電網(wǎng)技術(shù)，2004，28(13)：84-87.
[9] 劉大貴，王維慶，王海云.基于IEC閃變儀測試系統(tǒng)的仿真研究[J].自動化儀表，2011，32(4)：59-61.
[10]Wicznski Grzegorz.Analysis of Voltage Fluctuations in Power Networks[J].IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2008, 57(11)：2655-2664.